analysis

  透過型電子顕微鏡:TEM (Transmission Electron Microscopy)  JEOL製JEM-2010 

 

試料を透過あるいは回折した電子から、試料の形状・大きさ・結晶性などの情報が得られます。

当研究室では、複合鋳型法で調製した種々の金属・合金・無機化合物・高分子などを観察しています。

ナノレベルでの材料の解析には欠かせないものです。





走査型電子顕微鏡:SEM (Scanning Electron Microscopy)  
HITACHI製S-4100M (機器分析センター設備)
試料表面を走査して、2次電子を検出・結像します。

2次電子は、試料の表面形態などに大きく依存しますので、試料の形状に関する情報が得られます。

当研究室では、複合鋳型法で調製した種々の金属・合金・無機化合物・高分子などを観察しています。





 X線回折装置:XRD (X-Ray Diffraction)  SHIMADZU製XD-D1とXRD7000

 

試料の結晶性を評価します。特に、界面活性剤によって自己集積的に作られる

ヘキサゴナル構造やミセル構造の評価に威力を発揮します。


2台あるXRD装置のうち、1台は小角散乱専用として使っています。

 






   赤外分光分析装置:IR (Infrared Spectroscopy)  
日本分光製Herscel FT/IR-300(機器分析センター設備)

赤外領域の光透過あるいは光吸収を測定する装置です。

赤外領域の光スペクトルは分子構造を反映しますので、複合鋳型法による高分子などの構造等の評価に用いています。

 




熱重量分析装置:TG (Thermal Gravimetry)  
セイコー電子工業製TG-DTA/320U(機器分析センター設備)

試料の熱重量変化を測定します。調製した試料の構造や組成の変化を熱重量変化から評価しています。

実際のデバイスへの応用にも欠かせない基礎データになります。

また、担体への担持量の評価や不純物残存量などの評価にも用いています。

 

 

高精度ガス吸着量測定装置(表面積・細孔分布測定装置)  日本ベル製BELSORP 28SA

 

ガス吸着によって固体(粉体や多孔体など)のキャラクタリゼーションを行います。

当研究室では、固体の表面積と細孔分布のほかに担体上の金属分散度の評価にも利用しています。